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激光橢偏儀

¥電議型號:SE 400adv PV更新時間:2023-9-22 產品目錄

激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標準儀器,用于測量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質量控制。

單位:深圳市藍星宇電子科技有限公司

第 5 年

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三維掃描儀,光學抄數機,白光掃描儀廠家直銷

¥電議型號:PSD200更新時間:2023-9-14 產品目錄

三維掃描儀又名光學抄數機,它采用光電投射單元將結構光面光投射在物體表面,結合計算機視覺技術、光電傳感技術、圖象處理技術、以及軟件控制等實現對物體面形一次性快速測量,采用旋轉物體或者掃描頭,變換掃描視角,基于多視角點云標記點的自動拼接技術,可完成物體全方位360度掃描.

單位:深圳市鑫瑞測量儀器有限公司

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日本Microphase 光譜橢偏儀 PHE

¥電議型號:PHE更新時間:2023-8-30 產品目錄

單位:深圳市科時達電子科技有限公司

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SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E

¥電議型號:SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E更新時間:2023-1-3 產品目錄

semilab擁有全球zui優秀的電學和光學表征技術,產品被廣泛應用于光伏、半導體、科研以及平板測試領域。憑借先進的測試設備,為客戶的生產和質量監控提供一套完整的測試方案,在行業中始終處于領xian地位。

單位:北京亞科晨旭科技有限公司

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全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀

¥電議型號:ME-L更新時間:2023-8-23 產品目錄

產品簡介:me-l是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入,其采用行業前沿的創新技術,包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等?蓱糜诎雽w薄膜結構,半導體周期性納米結構,新材料,新物理現象研究,平板顯示,光伏太陽能,功能性涂料,生物和化學工程,塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析。雙旋轉補償器(drc)配置一次測量全部穆勒矩陣16個元素;配置自動變角器、五維樣件控制平臺等優質硬件模塊,軟件交互式界面配合輔助向導式設計,易上手、操作便捷;豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力。

單位:沈陽科晶自動化設備有限公司

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Photonic-Lattice全檢膜厚Mapping橢偏儀

¥電議型號:ME-210(-T)更新時間:2023-1-3 產品目錄

日本photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀,可以做到1000點/分鐘,6寸產品快可以在3分鐘內完成,不僅如此,me-210-t針對透明基板也可測量。

單位:北京歐屹科技有限公司

第 0 年

G8390-25 Solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽

¥電議型號:G8390-25更新時間:2022-5-1 產品目錄

solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名:釩酸鈉;sodium vanadate(v)。分子式:navo3分子量:121.93cas#:13718-26-8外觀:白色結晶或淺黃色結晶性粉末特性:溶解性:

單位:北京索萊寶科技有限公司

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加拿大2.0QQ群-橢偏儀

¥12600.00型號:3322099更新時間:2020-9-27 產品目錄

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單位:深圳市證通電子股份有限公司

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加拿大2.0QQ群-橢偏儀

¥13580.00型號:3322099更新時間:2020-9-17 產品目錄

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單位:上達電子(深圳)股份有限公司

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上海到武義物流公司直達→

¥400.00型號:更新時間:2020-7-5 產品目錄

上海到武義物流公司專線直達→ 安全快捷的物流公司!02162504748,我們給您的一定是的服務==整車零擔===專線直達===如需發貨==敬請來電!02163638056(400-697-6690譚經理)

單位:上海本耐物流有限公司

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海洋光學橢偏儀

¥電議型號:SpecEL-2000更新時間:2020-6-15 產品目錄

specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀,主要用于測量平整和半透明的樣品,例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。 橢圓偏光技術是一種非接觸式、非破壞性,以光學技術測量表面薄膜特性的方法。其檢測原理是:當一束偏振光經過物體表面或界面時,其偏振極化狀態會被改變。而橢偏儀就是通過探測樣品表面的反射光,來測量此改變(即反射光和入射光的振幅及相位的改變量),以決定表面特性薄膜的光學常數(n、k值)及膜厚。 specel-2000測試系統主要包括:寬帶光源、高性能線陣ccd光譜儀、導光器件、起偏器、樣品測試臺、檢偏器、光學增強元件及測量分析軟件。 specel-2000適合于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構特性,通常應用于有薄膜存在的地方,其應用

單位:頂尖科儀(中國)股份有限公司

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Semilab SE1000 全光譜橢偏儀

¥電議型號:SE1000更新時間:2020-6-3 產品目錄

se-1000型橢偏儀采用手動變角裝置來設定測試的入射角,樣品臺也采用手動方式,在測試的準確性和靈活性與se-2000保持一致的情況下,為客戶提供了一款極具競爭力的橢偏測試設備。另一方面,se-1000型全光譜橢偏儀采用了最新設計的光學部件以及最新版本的測試分析軟件(sam/sea),極大地提高了設備的運行穩定性和數據處理能力。

單位:北京銳峰先科技術有限公司

第 0 年

美國AST橢偏儀 SE200BA/500BA系列

¥電議型號:SE200BA/500BA系列 更新時間:2020-5-28 產品目錄

單位:北京燕京電子有限公司

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HORIBA UVISEL研究級經典型橢偏儀

¥電議型號:UVISEL更新時間:2020-5-26 產品目錄

器簡介: 20多年技術積累和發展的結晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩定性的經典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進行最精確的測量。采用pem相位調制技術,與機械旋轉部件技術相比,能提供更好的穩定性和信噪比。

單位:上海巨納科技有限公司

第 0 年

光子晶體探測器型橢偏儀

¥電議型號:ME-210/110更新時間:2020-5-21 產品目錄

這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創,并應用到橢偏儀的測試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領域領先世界,由此開發出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

單位:北京飛凱曼科技有限公司

第 0 年

EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專用)

¥電議型號:EM12-PV更新時間:2020-5-18 產品目錄

em12-pv用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。

單位:北京賽凡光電儀器有限公司

第 0 年

橢偏儀

¥電議型號:海洋光學SpecEL-2000更新時間:2019-5-29 產品目錄

specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀,主要用于測量平整和半透明的樣品,例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。

單位:頂尖科儀(中國)股份有限公司

第 0 年

Lenord+Bauer編碼原件

¥666.00型號:GEL 2432T-1BC600更新時間:2019-3-28 產品目錄

穗鋮(廈門)科技有限公司設立于廈門經濟特區,專注于為客戶提供德國及歐美地區原產的各類工控機電設備、儀器儀表、零配件。確保100%原廠全新正品。產品覆蓋:工業設備、儀器儀表、過程控制、電機傳動、低壓電器、液壓、工具、傳感器、控制類產品的企業,產品應用廣泛。

單位:穗鋮(廈門)科技有限公司

第 0 年

供應橢偏儀/上海/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安

¥電議型號:更新時間:2018-7-26 產品目錄

fft-在應用分析上,可除了橢圓儀原本的回歸分析,還增加了傅利葉的分析方式,可針對不同的材料與厚度使用,user使用上更為便利與快速.

單位:蘇州諾威特測控科技有限公司

第 0 年

SE200-MSP 橢偏儀

¥電議型號:更新時間:2015-1-30 產品目錄

橢偏儀

單位:北京燕京電子有限公司

第 0 年

橢偏儀0820

¥電議型號:更新時間:2013-8-20 產品目錄

在光譜橢偏儀的測量中使用不同的硬件配置,但每種配置都必須能產生已知偏振態的光束。測量由被測樣品反射后光的偏振態。這要求儀器能夠量化偏振態的變化量ρ。

單位:金湖恒大自動化儀表廠

第 0 年

EMPro 極致型多入射角激光橢偏儀

¥電議型號:EMPro更新時間:2012-12-11 產品目錄

empro是針對高端研發和質量控制領域推出的極致型多入射角激光橢偏儀。empro可在單入射角度或多入射角度下進行高精度、高準確性測量?捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k;亦可用于實時測量快速變化的納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的絕對厚度測量

單位:北京量拓科技有限公司

第 0 年

橢偏儀

¥電議型號:111更新時間:2012-5-19 產品目錄

激光系列產品 光譜測試儀器 光學精密機械 光源 光學影像 探測器 光學元件 光通信儀器 生物分析儀器

單位:長春市海洋光電有限公司

第 0 年

光譜橢偏儀

¥電議型號:SE200更新時間:2012-4-26 產品目錄

美國ast公司設計和制造適用各種不同應用的高品質的光譜橢偏系統。橢偏振光譜儀(se)具有功能強大的技術,主要用于精確測量薄膜厚度,光學常數確定,觀測薄膜表面粗糙度和薄膜材料在物理,化學和材料的光學特性。功能強大分析軟件tfprobe3.0可分析測試薄膜材料的多種性能,如薄膜材料厚度、表面粗糙度、合金濃度、介電常數。

單位:北京燕京電子有限公司

第 0 年

光譜型橢偏儀

¥電議型號:更新時間:2012-3-8 產品目錄

儀器為光譜型橢偏儀,它的設計緊湊、易于使用,可以精確測量膜層的厚度和折光系數。

單位:科睿技術發展有限公司

第 0 年

nanofilm呈像橢偏儀

¥電議型號:EP3更新時間:2012-3-8 產品目錄

德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來,nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產品以及相應的配套儀器。

單位:源順科技儀器有限公司

第 0 年

nanofilm呈像橢偏儀

¥電議型號:EP3更新時間:2012-3-8 產品目錄

德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來,nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產品以及相應的配套儀器。

單位:源順科技儀器有限公司

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SpecEl橢偏儀

¥電議型號:SpecEl橢偏儀更新時間:2011-12-20 產品目錄

specel-2000-vis橢偏儀通過測量基底反射的偏振光,進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。specel通過pc控制來實現折射率,吸光率及膜厚的測量。 集成的精確測量系統specel由一個集成的光源,一個光譜儀及兩個成70°的偏光器構成,并配有一個32位操作系統的pc.該橢偏儀可測量0.1nm-5um厚的單膜,并且折射率測量可達0.005%。specel可通過電話問價。 specel軟件及recipe配置文件通過specei軟件,你可以配置及存貯實驗設計方法實現一鍵分析,所有的配置會被存入recipe文件中。創建recipe后,你可以選擇不同的recipe來執行你的實驗。

單位:廣州標旗電子科技有限公司

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